В ПИШ ТУСУРа разработали автоматизированный измерительный комплекс для контроля параметров диэлектрических материалов

Промышленный партнёр Передовой инженерной школы «Электронное приборостроение и системы связи» им. А. В. Кобзева АО «НПФ «Микран» представил стенд с новейшими разработками на 26-й международной выставке электроники ExpoElectronica, которая проходит в Москве.

Ведущий научный сотрудник Лаборатории микроэлектронных и фотонных систем НИИ МЭС ТУСУРа Фёдор Шеерман в рамках стенда представляет результаты совместного проекта ПИШ ТУСУРа с промышленным партнером по разработке измерительного комплекса для исследования параметров диэлектрических материалов в интересах промышленного партнёра. 

Активное развитие сверхвысокочастотного диапазона частот приводит к постоянному увеличению требований к полосе рабочих частот и точности выходных характеристик радиотехнических устройств. Для того чтобы обеспечить им стабильно высокую производительность и надежность, важно контролировать параметры диэлектрических материалов, служащих основой для СВЧ печатных плат. Особое значение имеет контроль диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь.

«Для успешного решения данной задачи необходимо применять комплекс методов измерений, обладающих разнообразными способами применения. Однако решающим фактором является не только точное определение и измерение указанных параметров, но и периодический контроль, направленный на обнаружение и предотвращение возможных отклонений от заранее заданных значений», - отмечает Фёдор Шеерман.

В основе автоматизированного комплекса, разработанного в ПИШ ТУСУРа - методика определения диэлектрической проницаемости диэлектриков объемных и листовых материалов в широком диапазоне сверхвысоких частот с сильной (почти на порядок) частотной зависимостью диэлектрических свойств. На данный момент уже изготовлен опытный образец и разработано программное обеспечение для опции измерения комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков.