В ТУСУР состоится семинар «Тестирование микроэлектронных устройств и исследование механизмов отказов полупроводниковых устройств на пластине и в корпусе на базе оборудования Cascade Microtech»

Начало семинара в 10:00.

Место проведения: г. Томск, ул. Красноармейская, д. 147 ауд. 314 (Бизнес-инкубатор «Дружба»).

Приглашаются научные работники, инженеры и специалисты, участие в семинаре бесплатное.

Программа семинара будет включать следующие темы:

1. Решения компании Cascade Microtech в испытания на отказоустойчивость микроэлектронных устройств и исследований механизмов отказов полупроводниковых устройств как на пластинах, так и для корпусированных элементов (электромиграции (Electromigration (EM)), временной диэлектрический пробой (Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB)), температурная нестабильность напряжения обратного смещения (Negative Bias Temperature Instability (NBTI)) и инжекция горячих носителей (Hot Carrier Injection (HCI)). Докладчик: STEFFEN DIETER GRAUER, Cascade Microtech (Германия).
2. Комплексные решения компании Cascade Mirotech и Keysight Technologies в области измерений и характеризации полупроводниковых устройств на пластине. Докладчик: STEPHEN MARK SCHULTZ, Cascade Microtech (США).
3. Параметрические характериографы Keysight Technologies и их применение совместно с зондовыми станциями Cascade Microtech в рамках программы «Wafer Measurement Solution», программное обеспечение Keysight Technologies «Wafer Pro Express». Докладчик: А.Е. Войсковский, ЗАО «Компания НТНК» (Москва).
4. Х-параметры и их применение для моделирования нелинейных СВЧ устройств. Докладчики: проф., д.т.н. Л.И. Бабак, ТУСУР (Томск), А.А. Коколов, ТУСУР (Томск).

Участие в семинаре позволит познакомиться с современными мировыми методами тестирования микроэлектронных устройств, провести короткие встречи с инженерами компаний Cascade Microtech и Keysight Technologies, а также узнать больше о возможностях оборудования и повысить эффективность его использования.