Международный конкурс научных работ «Inside Edge»

Исследования кандидатов должны относиться к следующим областям:

• Оптика: геометрическая и волновая оптика/ фотоника. Светоизлучающие приборы (лазерные диоды/ светодиоды). Встраиваемые оптические устройства. ПО: Обработка изображений. Оптические сенсоры.
• Новые материалы: полимерные материалы. Керамики. Люминофоры. Композиты. Диэлектрики. LTCC (Низкотемпературная совместно обжигаемая керамика). Нано- материалы. Дисперсионные материалы. MEMS (микро- электромеханические системы). Тонкопленочные материалы. Обработка печатных микросхем. Интегрированные микросхемы. Солнечные батареи. Топливные элементы.
• Беспроводные технологии: интегральные микросхемы (аналоговые, цифровые). Беспроводные коммуникационные системы. MAC. Сетевые технологии. Коммуникационное ПО. Антенны. Передача аудио/ видео сигналов. Радиовещание.
• Силовая электроника: электросиловые технологии в разработке источников питания (ИП): дисплейные/ импульсные ИП. Системы питания для установок по преобразованию и хранению возобновляемых видов энергии. Режимы эксплуатации ИП (тепловой/ ЭМП/ЭМС). Высокоэффективная топология. Компьютерное моделирование и контроль работы ИП. Интегрированные магнетики для импульсных ИП. Разработка тонких ИП высоких мощностей. Цифровые системы силовой электроники. Технологии разработки мощных интегральных схем.
• Базовые технологии: гидрогазодинамика/ процессы теплообмена. Структурные деформации/ Вибрации. Электромагнитные поля/ Радио- волны/ Электрические цепи/ ЭМП. Оптика/ Оптические устройства. Материаловедение. Молекулярная физика. Квантовая физика. Молекулярная Динамика. Химические реакции. Междисциплинарная физика. Физические системы с различной степенью аппроксимации. Анализ поверхности наноструктур. Органическая и неорганическая химия. Структурный анализ кристаллов. Различные материалы (Полимеры и пр.). Лазерная спектроскопия/ Метрология/ Обработка материалов. Материалы для микроэлектроники. Изучение материалов методами ударных импульсов и электронной микроскопии.
• Технологии на производстве: сборка и тестирование электронных компонент. Нанесение покрытий. Контроль качества на микронном уровне. Анализ неисправностей. Визуальный контроль. Интеллектуальные системы контроля на производстве. Прецизионный контроль (Позиционирование/ Скорость/ Вращающий момент). Дизайн оптических систем. Разработка оптических модулей, со встроенными датчиками изображения. Линзы: дизайн и изготовление. Высокоточные технологии в обработке и создании микро-/ нано- структур на производстве.

Призы:

Медаль «1nside Edge», денежный приз $10 000 (кроме того, докторанту будет предложена возможность годичного обучения Post-Doc в Центральном научно-исследовательском институте компании, а магистры или бакалавры получат стипендии).

Две золотые медали, денежный приз по $5 000.

Три серебряные медали, денежный приз по $3 000.

Пять бронзовых медалей, денежный приз по $2 000.Заявки принимаются до 26 июня 2008 года.

Конкурс проходит в 2 этапа.

Для участия на первом этапе необходимо заполнить следующие формы:

1. Заявка
2. Резюме автора(ов)
3. Краткое описание работы
4. Для прошедших во второй этап необходимо прислать развернутое описание работы – тезис.

Все формы заполняются на английском языке в заданном формате, и должны быть направлены по электронной почте в указанные сроки. Тезисы предоставляются в оргкомитет до 12 сентября.

Победители конкурса будут объявлены 29 октября.

Оргкомитет:125047, Россия, Москва, 1-ая Брестская ул., 29, Офис 300, TBT-3 Исследовательский Центр Самсунг Тел.: (495) 797-24-73, Факс: (495) 797-25-05, E-mail: thesis@src.samsung.ruWeb: http://www.sem.samsung.ru/thesis(RU).html