Для доступа необходимо войти в систему
Размер шрифта:
+
Цвет сайта:
Изображения:

Специальное конструкторское бюро «Смена»

Направления деятельности

  • Проведение научных исследований в области технических наук
  • Разработка контрольно-измерительной аппаратуры
  • Разработка узлов, функциональных устройств и антенн СВЧ-диапазона
  • Разработка систем автоматизированного проектирования
  • Разработка радиоэлектронных технологий, специализированного технологического оборудования и автоматизированных систем управления технологическими процессами
  • Участие в подготовке специалистов высшей квалификации

Структурные подразделения

  1. Лаборатория аддитивных технологий и инженерной биологии

Выполненные работы

  • НИР «Исследование научно-технических принципов и изыскание инженерно-технических решений по созданию быстроразворачиваемых антенн для радиолиний ДКМВ-диапазона». Шифр «Крюшон – Т». Тема 14-02. Томск, 2003 – 2004 гг.
  • НИОКР «Универсальный цифровой комплекс для измерения импульсных и частотных характеристик устройств и телекоммуникационных систем в диапазоне от 0 до 1000 МГц», 2008 г.
  • НИОКР «Разработка опытного образца нелинейного импульсного анализатора цепей контракт» (г/к № 6750р/9492 от 10.04.2009 г.), фонд содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере, 2009–2010 гг.
  • НИР «Разработка основ синтеза методом «выращивания» 2D- и 3D-топологий нерегулярных микрополосковых структур, управляемых интегральных устройств ВЧ- и СВЧ-диапазонов и их экспериментальное исследование» (г/к № П690 от 12.08.2009 г.). ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России», 2009 – 2011 гг.
  • НИР «Изучение нелинейного рассеяния объектами сверхширокополосных сигналов и исследование возможности создания на этой основе нелинейных рефлектометров и сенсоров» (г/к П453 от 31.07.2009 г.). ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России», 2009 – 2011 гг.
  • НИР «Методы и средства диагностики качества нелинейных моделей элементов для СВЧ-наноэлектроники при сверхширокополосных и импульсных воздействиях». Грант РФФИ 09-08-99041. Томск, 2009–2010 гг.
  • СЧ ОКР «Разработка комплекса программных и технических средств для контроля информационных магистралей, обеспечения электромагнитной совместимости и исследования надёжности унифицированного ряда электронных модулей на основе технологии «система-на-кристалле» для систем управления и электропитания космических аппаратов связи, навигации и дистанционного зондирования Земли с длительным сроком активного существования». Направление 1 – «Разработка автоматизированной системы контроля информационных магистралей космических аппаратов», 2010 – 2012 гг.
  • НИР «Разработка принципов и исследование возможностей нелинейной сверхширокополосной радиолокации» (грант РФФИ 12-07-31162 мол_а), 2012–2013 гг.
  • СЧ ОКР «Разработка базовых технологических операций изготовления особо плоских полноцветных ОСИД-дисплеев методом принтерной печати». Шифр «Органика» (г/к № 12411.1006899.11.055 от 05.04.2012 г.) в рамках федеральной целевой программы «Развитие электронной компонентной базы и радиоэлектроники на 2008 – 2015 гг.». Направление – «Отработка технологий принтерной печати и диагностики светоизлучающих ОСИД-матриц», 2012 – 2014 гг.
  • НИР «Исследование нелинейных свойств тонкоплёночных проводников, изготовленных методом струйной печати с применением нанодисперсных электропроводящих чернил» (грант РФФИ 14-08-31490 мол_а), 2014 - 2015 гг.
  • СЧ ОКР «Разработка гетерогенной автоматизированной системы мониторинга потребляемых энергоресурсов, программного обеспечения, а также разработка и реализация проектно-сметной документации на развёртывание и проведение натурных испытаний системы на объектах». Направление: Патентные исследования, конструкторское сопровождение проекта. 2015 - 2016 гг.
  • НИР «Исследование режимов формирования функциональных слоёв OLED-структур методом ультразвукового капиллярного нанесения» (х/д 08/16, заказчик НИ ТГУ), 2016 г.
  • НИР «Разработка системы диагностики кабельных сетей космических аппаратов». 2015 - 2017 гг.
  • НИР «Создание плоттерной системы печати изделий полимерной электроники с элементами термостатирования чернил и подложек». 2015 - 2017 гг.
  • НИР «Разработка методов и средств радиосвязи, основанной на измерении параметров недетерминированных радиосигналов», 2015 - 2017 гг.
  • НИР «Разработка методов и средств диагностики латентных дефектов информационных магистралей космических аппаратов с длительным сроком активного существования на основе анализа характеристик нелинейности преобразования сверхширокополосных импульсных сигналов»,  2015 - 2017 гг.
  • НИР «Создание и исследование устройств печатной электроники созданных методом капиллярной принтерной печати» (х/д 28/17, заказчик НИ ТГУ), 2017 г.
  • ОКР  «Разработка конструкции, изготовление и тестирование модуля хранения пластиковых карт» (х/д 14/17, заказчик ООО «Картомат технологии»), 2017 - 2018 гг.

Разработки специального конструкторского бюро «Смена»

Векторный импульсный измеритель характеристик цепей Р4-И-01

Прибор предназначен для проведения измерений временных, частотных характеристик устройств, а также характеристик нелинейности преобразования сигнала устройством.

Особенностью прибора является использование сверхширокополосных тестовых сигналов (в том числе видеоимпульсных) для измерения всей совокупности характеристик. Это создаёт возможность подавления паразитных отражений сигнала стробированием (например, при измерении параметров антенн в незаглушенном помещении).

Преимущество использования импульсных и сверхширокополосных сигналов имеет при наличии нелинейных искажений сигналов исследуемым объектом. В этом случае его характеристики зависят от параметров воздействующего на него сигнала, поэтому важным становится исследование характеристик систем по отношению к сигналам, с которыми они реально работают. Методы измерений характеристик нелинейности при импульсном воздействии защищены патентами РФ.

Функциональные возможности

Режимы измерений

Прибор и программное обеспечение «ИмпульсМ» позволяют производить измерения характеристик устройств в одном из пяти режимов:

  • измерение частотных характеристик,
  • измерение гармонических искажений,
  • измерение интермодуляционных искажений,
  • измерение нуль-спектральных искажений,
  • построение рефлектограмм (в том числе нелинейных).

Основные технические характеристики

Технические характеристики при измерениях во временной области

Минимальная длительность тестового видеоимпульса по уровню его 0.1 амплитуды, нс, не более 17,3
Встроенная линия задержки, нс 100 ± 2,5
Минимальный интервал дискретизации, нс 4
Отношение амплитуды видеоимпульса к среднеквадратическому значению шума в рефлектограмме при полном отражении сигнала, дБ 45 (без усреднения)
65 (с усреднением по 128 измерениям)

Технические характеристики при измерениях в частотной области

Диапазон частот, МГц 0…25
Динамический диапазон измерения обратных потерь в диапазоне частот 0…25 МГц при усреднении по 128 измерениям, дБ 32
Динамический диапазон измерения прямых потерь в диапазоне частот 0…25 МГц при усреднении по 128 измерениям, дБ 62
Пределы допускаемой основной погрешности измерения модуля импеданса при усреднении по 128 измерениям, % ± 4
Пределы допускаемой основной погрешности измерения КСВ при КСВ не более 2 при усреднении по 128 измерениям, % ± 2,5
Пределы допускаемой основной погрешности измерения вносимого ослабления при усреднении по 128 измерениям, дБ ± 1

Собственные нелинейные искажения

Коэффициент гармоник (частота тестового сигнала 1& МГц, амплитуда 5 В, учитываются гармоники в диапазоне до 25 МГц), % 0,8
Коэффициент интермодуляционных искажений 2-го порядка (тестовый сигнал: частоты 1 и 18,5 МГц, с амплитудами 4 и 1 В соответственно), % 0,8
Коэффициент интермодуляционных искажений 3-го порядка (тестовый сигнал: частоты 1 и 18,5 МГц, с амплитудами 4 и 1 В соответственно), % 1,5
Коэффициент нуль-спектральных искажений на проход (нуль спектра тестового сигнала расположен на частоте 14,285 МГц), % 1
Коэффициент нуль-спектральных искажений на отражение (нуль спектра тестового сигнала расположен на частоте 14,285 МГц), % 10
Нелинейность в режиме построения нелинейной рефлектограммы, % 1
Регистратор электромагнитных и акустических сигналов РЭМАС-1

Прибор представляет собой автономный анализатор-регистратор спектра реального времени. Может быть использован для долговременного наблюдения состояния электромагнитной и акустической обстановки в низкочастотной области спектра.

Прибор предназначен для мониторинга и регистрации ранних предвестников возникновения горного удара и предупреждения обрушений в шахтных сооружениях.

Описание прибора

Пользовательский интерфейс прибора

Прибор работает под управлением ОС uClinux. Устройство ввода – влагозащищённая плёночная клавиатура. Вывод информации осуществляется при помощи высококонтрастного графического жидкокристаллического индикатора.

Программное обеспечение

Программное обеспечение REMASExpert предназначено для анализа и предварительной обработки результатов измерения.

Внешний вид программы Keeper

Программа позволяет:

  • воспроизводить спектрограммы измеренных сигналов,
  • анализировать изменение во времени энергии сигналов на заданной частоте или в диапазоне частот,
  • осуществлять статистическую обработку сигналов,
  • выделять в частотно-временной области основные параметры импульсных сигналов от рудных тел на фоне шумов и помех,
  • производить съём информации c одного или нескольких приборов, включённых в единую сеть.

Функциональные и технические характеристики прибора

Число измерительных каналов 2
Измерение средней энергии и частоты следования импульсов, зарегистрированных на входе акустического канала да
Измерение амплитудного спектра сигнала, зарегистрированного на входе электромагнитного канала да
Период обновления характеристик, мс 16
Диапазон частот анализа, кГц 1 – 100
Тип фильтрации БПФ
Шаг по частоте, кГц 1
Полоса фильтра по уровню -3 дБ, кГц 3
Коэффициент прямоугольности фильтров по уровням -30 дБ : -3 дБ, не хуже 3:1
Динамический диапазон, не менее, дБ 60
Чувствительность по входу электромагнитного канала прибора (без датчика и предварительного усилителя), мкВ 500
Максимальная амплитуда входного сигнала на входе электромагнитного канала (без датчика и предварительного усилителя), мВ 500
Чувствительность электромагнитного канала, приведённая к входу датчика, мкВ 2
Максимальная амплитуда сигнала на входе датчика, мВ 5
Чувствительность по входу акустического канала, мВ 5
Время автономной работы при питании от штатной аккумуляторной батареи, не менее, суток 2
Ёмкость аккумуляторных батарей, A·ч 16
Напряжение питания встроенных аккумуляторных батарей, В 16..24
Запись частотных характеристик зарегистрированных сигналов во внешнюю энергонезависимую да
Объём энергонезависимой (flash) памяти, Гб 2
Напряжение питания от сети постоянного тока, В 8...24
Класс пыле- и влагозащищённости IP65
Масса прибора, не более, кг 8
Автоматизированная система контроля информационных магистралей и их компонентов

Назначение

Система предназначена для автоматизированного контроля компонентов информационных магистралей космических аппаратов на соответствие требованиям ГОСТ Р 52072-2003.

Особенности системы

  • Автоматический режим тестирования компонентов информационных магистралей на соответствие требованиям
  • Проведение детальных исследований в автоматизированном режиме, а также визуальная оценка результатов с помощью графических компонентов
  • Все измерения объекта выполняются за одно подключение
  • Продолжительность тестирования сокращается с 6 часов до 40 минут

Состав

  • Шасси
  • Промышленный компьютер
  • Генератор сигналов произвольной формы
  • Двухканальный осциллограф
  • Измеритель иммитанса
  • Измеритель сопротивления изоляции и электрической прочности
  • Управляемый коммутатор
  • Специализированное программное обеспечение АСК ИМК

Перечень тестов

  • Измерение контактного сопротивления
  • Измерение сопротивления изоляции
  • Испытание электрической прочности
  • Измерение импульсных и частотных характеристик
  • Измерение импеданса
  • Оценка подавления синфазных помех
  • Измерение затухания сигнала
  • Проверка общей емкости кабеля
  • Измерение коэффициента ёмкостной асимметрии

Программное обеспечение АСК ИМК

Производит управление приборами и выполняет обработку результатов. Позволяет контролировать ход испытаний, осуществлять измерения в автоматическом и «ручном» режимах. По результатам тестирования создаётся протокол испытаний.

  • Система измерения и экстракции параметров органических светодиодных матриц
  • Широкополосная комбинированная антенна ДКМВ-диапазона
Начальник кб
Кандидат технических наук

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 109

Тел.: (3822) 53-00-53

E-mail: aleksandr.a.bombizov@tusur.ru

Контакты

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 109

Тел.: внутр. 1416

E-mail: main@skbsmena.ru

Время работы: пн-пт с 8.30 до 17.30, обед с 13.00 до 14.00; сб,вс - выходной

Инженер

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 109

Инженер

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 106

Начальник КБ

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 109

Тел.: (3822) 53-00-53

Инженер

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 109

Инженер

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 109

Старший научный сотрудник

Инженер

Адрес: пр-т Ленина, 40, каб. 136 д

Ведущий научный сотрудник

Младший научный сотрудник

Младший научный сотрудник

Младший научный сотрудник

Младший научный сотрудник

Старший научный сотрудник

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 106

Старший научный сотрудник

Младший научный сотрудник

Адрес: пр-т Ленина, 40, каб. 120

Заведующий лабораторией

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 106

Старший научный сотрудник

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 106

Инженер

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 106

Старший научный сотрудник

Старший научный сотрудник

Ведущий научный сотрудник

Инженер

Адрес: пр-т Ленина, 40, каб. 136г

Инженер

Адрес: пр-т Ленина, 40, каб. 136г

Инженер

Адрес: пр-т Ленина, 40, каб. 136г

Ведущий научный сотрудник

Инженер-исследователь

Адрес: пр-т Ленина, 40, ст1, каб. 108

Инженер-исследователь

Тел.: (3822) 53-00-53, внутр. 1414

Инженер-исследователь

Старший научный сотрудник

Инженер-исследователь

Инженер-исследователь

Старший научный сотрудник

Старший научный сотрудник

Младший научный сотрудник

Младший научный сотрудник

НАВЕРХ