TEM-камера

Описание

Методы измерения уровней электромагнитной эмиссии (помехоэмиссии) и восприимчивости (помехоустойчивости) интегральных схем (ИС) на соответствие уровням, установленные нормативными документами (IEC, SAE, MIL), включают использование ТЕМ-камер. Измерения с использованием ТЕМ-камер широко применяются при исследованиях и испытаниях, а также идентификации механизмов отказа ИС, при воздействии электромагнитного излучения, в широком диапазоне параметров. Подобные исследования и испытания полезны при повышении помехоустойчивости ИС или уменьшении уровня эмиссии от них.

Технические характеристики

	TEMK-1000	TEMK-2000
Частотный диапазон, МГц	0–1000	0–2000
Максимальные габариты испытуемого объекта (Д×Ш×В), мм ³	40×100×100	20×100×100
Коэффициент стоячей волны по напряжению	<1,2	<1,22
Максимальные габариты камеры (Д×Ш×В), мм ³	700×285×250	350×142×125
Напряженность электрического поля, кВ/м (при неравномерности ±2 дБ)	<4	<8

Преимущества

Исследования по разрушению внутренней структуры электронного компонента при воздействии на него электромагнитного импульса
Контроль результатов воздействия, не извлекая объект исследования
Измерение в широком диапазоне частот параметров компонента и печатных плат. Исследование влияния электромагнитного поля на биологические объекты

Область применения

Исследования и испытания электронной компонентной базы (ЭКБ) и печатных плат (ПП) на помехоэмиссию и помехоустойчивость в соответствии со стандартами IEC61967-2, IEC62132-2, SAE J 1752/3, MIL-STD-461 G
Измерение в широком диапазоне частот и амплитуд воздействия на ЭКБ и ПП
Исследование влияния электромагнитного поля на биологические объекты